Proizvođač Broj proizvoda:
SN74LVTH18646APM
Product Overview
Proizvođač:
Texas Instruments
Broj dela:
SN74LVTH18646APM-DG
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Detaljan opis:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventar:
305 kom. Nova originalna na skladištu
1862955
Zatraži ponudu
Količina
Minimum 1
Minimum 1
(*) je obavezno
Javićemo vam se u roku od 24 sata
Javićemo vam se u roku od 24 sata
POŠALJI
SN74LVTH18646APM Tehničke specifikacije
Kategorija
Logika, Specijalna logika
Proizvođač
Texas Instruments
Pakovanje
Tray
Serije
74LVTH
Status proizvoda
Active
Logički tip
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Napon napajanja
2.7V ~ 3.6V
Broj bitova
18
Radna temperatura
-40°C ~ 85°C
Tip montaže
Surface Mount
Paket / slučaj
64-LQFP
Dobavljač uređaja Paket
64-LQFP (10x10)
Osnovni broj proizvoda
74LVTH18646
Tehnička dokumentacija i dokumenti
Tehnički listovi
Dodatne informacije
Standardni paket
160
Ostala imena
-296-8703-DG
-296-8703
-SN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APM
296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APM-NDR
296-8703
SN74LVTH18646APMG4
SN74LVTH18646APMG4-DG
TEXTISSN74LVTH18646APM
-296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APMG4-NDR
Ekoloska i izvozna klasifikacija
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Nivo osetljivosti na vlagu (MSL)
3 (168 Hours)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Sertifikacija
Povezani proizvodi
SN74LVTH18646APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN