SN74BCT8374ADW
Proizvođač Broj proizvoda:

SN74BCT8374ADW

Product Overview

Proizvođač:

Texas Instruments

Broj dela:

SN74BCT8374ADW-DG

Opis:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Detaljan opis:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

Inventar:

75 kom. Nova originalna na skladištu
1718307
Zatraži ponudu
Količina
Minimum 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) je obavezno
Javićemo vam se u roku od 24 sata
POŠALJI

SN74BCT8374ADW Tehničke specifikacije

Kategorija
Logika, Specijalna logika
Proizvođač
Texas Instruments
Pakovanje
Tube
Serije
74BCT
Status proizvoda
Active
Logički tip
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Napon napajanja
4.5V ~ 5.5V
Broj bitova
8
Radna temperatura
0°C ~ 70°C
Tip montaže
Surface Mount
Paket / slučaj
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Dobavljač uređaja Paket
24-SOIC
Osnovni broj proizvoda
74BCT8374

Tehnička dokumentacija i dokumenti

Tehnički listovi

Dodatne informacije

Standardni paket
25
Ostala imena
SN74BCT8374ADWE4-DG
SN74BCT8374ADWE4
-SN74BCT8374ADW-NDR
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-DG
296-33849-5
SN74BCT8374ADW-DG

Ekoloska i izvozna klasifikacija

RoHS Status
ROHS3 Compliant
Nivo osetljivosti na vlagu (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Sertifikacija
Povezani proizvodi
microchip-technology

SY58600UMG-TR

IC LINEDRIVER/RCVR CML DIFF 8MLF

texas-instruments

SN74BCT8244ADWR

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

texas-instruments

SN74GTLP22034GQLR

IC REG TXRX LVTTL-GTLP 56-BGA

microchip-technology

SY10EL16VCKI-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP