Proizvođač Broj proizvoda:
SN74ABT18652PM
Product Overview
Proizvođač:
Texas Instruments
Broj dela:
SN74ABT18652PM-DG
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Detaljan opis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventar:
1545477
Zatraži ponudu
Količina
Minimum 1
Minimum 1
(*) je obavezno
Javićemo vam se u roku od 24 sata
Javićemo vam se u roku od 24 sata
POŠALJI
SN74ABT18652PM Tehničke specifikacije
Kategorija
Logika, Specijalna logika
Proizvođač
Texas Instruments
Pakovanje
Tray
Serije
74ABT
Status proizvoda
Active
Logički tip
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napon napajanja
4.5V ~ 5.5V
Broj bitova
18
Radna temperatura
-40°C ~ 85°C
Tip montaže
Surface Mount
Paket / slučaj
64-LQFP
Dobavljač uređaja Paket
64-LQFP (10x10)
Osnovni broj proizvoda
74ABT18652
Tehnička dokumentacija i dokumenti
Tehnički listovi
Dodatne informacije
Standardni paket
160
Ostala imena
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
Ekoloska i izvozna klasifikacija
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Nivo osetljivosti na vlagu (MSL)
3 (168 Hours)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Sertifikacija
Povezani proizvodi
SN74GTLP2034DGGR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP
SN74FB2041ARCG3
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
